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YP-150I日本YAMADA山田光學高亮度鹵素半導體檢查燈 YAMADA 高亮度鹵素光源檢查燈YP-150I$n日本YAMADA山田光學高亮度鹵素半導體檢查燈這是一種光源裝置，通過使用用于檢查 Si 晶圓和玻璃表面上的劃痕的照明光源提供 400,000Lux（30Φ）或更高的照明，可以觀察到細微的劃痕。

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更新日期
2026-05-25

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YP-250IDYAMADA液晶屏表面劃痕檢查燈 YAMADA液晶屏表面劃痕檢查燈YP-250ID 高亮度鹵素光源系統是一種宏觀觀察照明系統，用于檢測最終成品表面的異物、劃痕、拋光不均勻、霧度和滑動等各種缺陷，這是半導體晶片和液晶襯底加工過程中最耗費人力的。

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更新日期
2026-06-01

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YP-150IDYAMADA半導體晶片表面檢查燈 YAMADA半導體晶片表面檢查燈YP-150ID 高亮度鹵素光源系統是一種宏觀觀察照明系統，用于檢測最終成品表面的異物、劃痕、拋光不均勻、霧度和滑動等各種缺陷，這是半導體晶片和液晶襯底加工過程中最耗費人力的。

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2026-06-01

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YP-150I-日本YAMADA山田半導體檢查燈--備庫銷售備庫銷售-現貨-日本YAMADA山田半導體檢查燈北崎現貨供應備庫現貨20臺鹵素燈照明光源這是一種光源裝置，通過使用用于檢查 Si 晶圓和玻璃表面上的劃痕的照明光源提供 400,000Lux（30Φ）或更高的照明，可以觀察到細微的劃痕。 1、可照亮樣品表面400,000Lx以上。

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更新日期
2026-05-31

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2026-05-31

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YP-150I現貨-日本YAMADA山田半導體檢查燈備庫銷售-現貨-日本YAMADA山田半導體檢查燈北崎現貨供應備庫現貨20臺鹵素燈照明光源這是一種光源裝置，通過使用用于檢查 Si 晶圓和玻璃表面上的劃痕的照明光源提供 400,000Lux（30&amp;amp;amp;Phi;）或更高的照明，可以觀察到細微的劃痕。 1、可照亮樣品表面400,000Lx以上。

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2026-05-31

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